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T450plus系列高性能多用型XRF

T450plus系列為滿足生產管控和研發領域中高精度鍍層厚度或精確材料成分分析而研制的一款多用型X熒光光譜儀,可為任何應用提供最佳性能的儀器選擇。

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T450plus系列高性能多用型XRF

圖片1.png

涂鍍層分析

RoHS檢測

元素分析

 

T450plus系列為滿足生產管控和研發領域中高精度鍍層厚度或精確材料成分分析而研制的一款多用型X熒光光譜儀,可為任何應用提供最佳性能的儀器選擇。

該系列儀器采用微聚焦增強型射線管和數字多道脈沖信號處理技術,同時搭載增強FP算 法軟件與變焦裝置,再加上高性能大面積探測器,無論在檢測微小樣品和凹槽的膜厚性 能,還是RoHS和元素分析方面,均具備出色的重復精度,這也是它廣受客戶、研究所等機構歡迎的原因。

技術參數

型號

T450 plus

T450S plus

成分分析檢測

S(16) - U(92)

Al(13) - U(92)

涂鍍層分析

Li(3) -U(92)

ROHS檢測

標配,最低檢出限可達2ppm

標配,最低檢出限可達1ppm

算法

增強型FP算法

分析軟件

可同時分析15層鍍層,24種元素

射線方向

從下往上

X射線發生裝置

微聚焦增強型射線管

探測器

高性能Si-Pin半導體探測器

FAST SDD探測器

高壓

0-50KV智能程控高壓系統

準直器

φ0.3mm(φ0.2mm)/φ0.5mm/φ3mm 多準自動切換

樣品觀察

工業 CCD 高清攝像頭

對焦方式

手動對焦

放大倍數

光學30-50X,數字放大40-160倍

移動平臺

微米級移動平臺

操作環境溫濕度

10~35℃,濕度≤70%

工作電源

交流220±5V

安全系統

多維散熱系統,多重輻射安全系統

性能優勢

高穩定微聚焦集成系統

采用自主研發設計的高穩定性微聚焦增強型射線管和聚焦光路系統,最小測量點可達0.25mm。

搭載高性能探測器

 

分辨率最低至129eV±5eV,能量線性和能量分辨率俱佳,具有更高的穩定性和精度。

高精度

含量檢出限可達1ppm,厚度 檢出限可達1nm。

變焦補償算法

可對各種異形凹槽件進行無損檢 測,凹槽深度范圍 0-25mm。

使用壽命長

采用自主研發的多維散熱系統,同時同樣的測試面積功率更低,整機與 射線管使用壽命更長。

 

應用領域

圖片1.png快速分析

圖片2.png智能體驗

圖片3.png超高精度

圖片4.png穩定性高

圖片5.png功能強大

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保檢測解決方案

歐盟ROHS指令-2011/65/EU

REACH指令

無鹵指令[IEC61249-2-21]

玩具En71指令

美國CPSIA消費品安全改進法

IEC62321標準

China-RoHS國推自愿性認證

GB/T26125-2011

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