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解決方案 | A550硅油涂布檢測儀,為膠粘/薄膜涂布材料質量保駕護航
發布時間:2024-08-30 10:00:27 點擊次數:533099

佳譜儀器JPSPEC
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準確獲得紙張、薄膜和離型膜上有機硅涂層的厚度和質量至關重要。我司自主研發的A550硅油涂布檢測儀既可以分析PET薄膜,還可以分析格拉辛、淋膜紙及牛皮紙等多種硅油涂布量。






JPSPEC

A550硅油涂布檢測儀





A550硅油涂布檢測儀具有檢測速度快,測試穩定性好、準確性高等優點,儀器采用了大面積的晶體硅漂移探測器,分辨率能夠達到 125eV, 能分辨 Al( 鋁 ) 元素和 Si( 硅 ) 元素。可廣泛應用于硅油涂布行業產品工藝及成本的管理,通過驗證上游基礎材料的可靠性、避免存在產品不合格的情況,從而有效避免了因產品次等問題所帶來的對企業品牌價值的影響。

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原理

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其原理是通過軟件程序控制,讓 X 射線發生路產生適合的 X 射線去激發測試薄膜材料中的 Si 或者其他元素,被 X 射線激發后變為不穩定態,高能層的電子會躍遷到空穴并同時釋放特定能量被探測器接收,因每個元素都有自已特定的能量特征線,通過探測器的識別,計算機軟件的計算,即可準確識別該元素,并計算出含量。




技術特點
  • 測試采用X射線熒光光譜原理,測試過程無需耗材

  • 配置高清液晶顯示器,測試過程和測試結果一目了然

  • 光管垂直照射,硅元素性能得到更強激發

  • 設備集成多個 usb 接口,數據和通訊傳輸滿足多種要求

  • 測試下限好,可準確測量0.01g/m的涂硅量

  • 空氣光路內部環境得到顯著優化,大氣環境一樣可以直接測試

  • 采用大面積硅漂移探測器,測試結果極其準確

  • 一鍵測試/操作簡單智能,測試過程使用時間更短,結果更準確

  • 快速采用新的模型算法,大大提高了輕元素的測量穩定性


應用領域
  • 各種薄膜、淋膜、離型膜等

  • 硅油涂布量的測定

  • 各種薄膜生產過程中

  • Si/Al元素等比量的測定

  • 電子產品保護膜

  • 硅油殘余量的測定

  • 電子產品硫化物的殘留量的測定



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